变频抗干扰介质损耗测试仪优质供应商

SXJS-IV变频抗干扰介质损耗测试仪是用于**高压现场介损的测量,用变频抗干扰和傅立叶数字滤波技术,保持强电场干扰下测量数据稳定、可靠;测量结果由大屏幕双色液晶屏清晰显示,全中文操作界面,使用较其方便。  
二、技术指标  
1、抗干扰方式：变频抗干扰  
2、试方式：正接法反接法自激法外接法  
3、量范围：电容量内接高压<60000PF  
4、外接高压:30P~600000PF  
5、介损不限,较小分辨率0.01%  
6、确度：电容量±(1.5%读数2PF)  
7、介损±(2%读数0.09%)  
8、接试验电源：0.5~10KV电压缓升缓降  
9、5~65Hz频率可调45/55Hz自动双频测试  
10、输出电流200mA  
11、源6~50V变频较大输出电流20A  
12、功能：电子万年历  
13、准RS232接口100组数据存储  
14、条件：供电电源180~240VAC50Hz  
15、环境温度：－10℃~50℃湿度30%~70%
抗干扰介质损耗测试仪:/shixu17-SonList-1163741/
商铺地址:/st311059